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    晶體電光、聲光、磁光效應實驗

    RLE-SA06?晶體電光、聲光、磁光效應實驗

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    實驗簡介

    ?? 晶體在電場、磁場、應力的作用下會產生雙折射效應,利用此效應可以測量相關物理量,也可以實現對光的相位和強度進行調制。晶體的電光、聲光、磁光效應是*常見的三種調制現象,RealLight?將這三個知識點融合在一起開發本實驗,便于教師講授相關知識點以及學生通過實驗現象來橫向比較實驗原理。

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    實驗內容

    1、晶體電光語音傳輸實驗;
    2、晶體的錐光干涉圖實驗;
    3、晶體電光半波電壓測量實驗;
    4、晶體聲光調制衍射效率實驗;
    5、晶體的聲光解調實驗;
    6、晶體聲光調制衍射角度測量實驗;
    7、晶體中聲速測量實驗;
    8、晶體聲光調制語音傳輸實驗;
    9、偏振光旋向判斷實驗;
    10、晶體磁光維爾德常數測量實驗。


    知識點

    偏振光、晶體的雙折射、偏振片、波片、布拉格衍射、半波電壓、晶體的電光/聲光/磁光效應。

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    選配設備參數

    ?數字示波器: 帶寬100MHz,采樣頻率1GHz。

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    主要設備參數

    1.?1.光源組件:
    光纖耦合激光器:650nm,P>1.5mW,單模光纖,芯徑4μm,TEM 00 ,3mmPVC光纖保護套,光纖接頭FC/PC,光纖長度50cm;
    固體激光器:輸出功率10mW,中心波長532nm,光束直徑1.5mm,光束發散角1mrad,光束指向穩定性0.05mrad,功率穩定性<3%。
    2.電光晶體組件:
    晶體類型:鈮酸鋰,3mm×4mm×35mm,雙面濺射電極;
    實驗電源:0~600V可調,內置正弦信號0~5KHz,調制幅度0~3V可調。
    3.聲光晶體組件:
    材料:TeO2,工作波長650nm,工作頻率:100MHz,外控信號偏置可調,增益可調;通光孔徑1mm,衍射效率:≥80%@100MHz,光透過率:≥95%,工作頻率:100±0.1MHz;工作頻率帶寬:±10MHz,調制帶寬:>1MHz;射頻連接方式:SMA;
    聲光電源:電壓24V,電流1A。
    4.磁光晶體組件:
    磁光晶體:ZF7,Φ5×50mm、Φ5×20mm;
    高性能永磁體:釹鐵硼N38H,端面磁場強度>1.1T。
    5.光學組件:
    偏振片:Φ25.4mm,K9玻璃窗口,AR@400nm~700nm,消光比>400:1;
    石英波片:Φ25.4mm,石英晶體,光潔度Ⅲ級,精度:30″。
    6.探測器組件:
    可編程功率計:顯示屏顯示內容為測量波長、自動/手動量程模式、衰減窗口狀態、當前功率測量檔位;測量精度0.1uW,分辨率0.1uW,支持六擋量程;測量波長范圍200nm-1100nm,功率測量范圍0-40mW(裸探測器)/0-2W(衰減窗口);提供實時功率顯示,長期功率檢測,并顯示測量時長、測量時間內的功率變化曲線,提供*大值、*小值顯示,可導出excel數據;USB2.0操作通訊接口。
    光電接收模塊:響應波長400nm~1100nm;
    音頻信號輸出:MP3,5V供電,含音箱。
    7.機械組件:
    精密光學導軌:L×W=1200mm×90mm,配套滑塊、一維平移滑塊、調節支座、支
    桿;高精度調節鏡架;
    8.光纖準直鏡:
    通光孔徑Φ1mm,接口FC/PC,用于光纖耦合激光器的光束準直。
    9.實驗手冊及保修卡。


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